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在美式英语中,动词 burn 为规则动词,其过去式和过去分词均为 burned;在英式英语中,动词 burn可以是规则的也可以是不规则的(即可用 burned 和 burnt)。 所以 … 因burn in测试需要测试硬件,且一般需要by 100%测试,对于大芯片来说成本很高,很多公司评估在wafer level,通过在cp测试中加速激发早夭的 … 从结论说起,lcd的image sticking一般来说静置一段时间都是可逆的。 lcd的每一帧画面给单个像素内液晶分子的电压都是方向相反的,以保证液晶不会长时间受到某 … Wafer level burn in: 不是一回事。 burn-in test是老化测试,目的一是加速老化,提前激发早期失效并剔除这部分坏掉的芯片,剩下的好的才能交付给客户。这种测试不能影响(或者说显著 …